Reliability of microtechnology - interconnects, devices and systems
- Författare
- (Johan Liu, Olli Salmela, Jussi Sarkka, James E. Morris, Per-Erik Tegehall, Cristina Andersson.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Springer New York | 2011 | USA, New York, NY, London | 1 PDF-fil (xiii, 204 sidor. ill.) | 978-1-4419-5760-3 |